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제품 카테고리
2차 전지 전극 공정
인쇄 장비
공장 자동화(FA) 시스템
NB-LTM
계측 시스템
장비 상세
Specifications
Pulsed Xenon Light Source
- Spectral Output : 200~1000nm
- Pluse Delay : 6µs
- Pulse Rate : 100Hz (Max)
Detector
- Optical Bench : ULS, symmetrical Czerny-Turner, 75 mm focal length
- Wavelength Range : 200~1160nm
- Detector : Back-thinned CCD image sensor 2048 pixels
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